测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:07-01 2023 来自:祥宇精密
测长仪是一种用于精确测量和定位物体长度的设备。是科学和工程领域中重要的技术手段之一,而测长仪则是其中一种常见的测量设备。它利用高精度传感器和先进的测量算法来实现对物体长度的精准测量和定位。测长仪通常由测量主机、传感器、显示屏等组成,结构紧凑且易于操作。
一、测长仪的工作原理
测长仪的工作原理基于光学、机械或电子的测量方式。其中,光学测长仪利用激光干涉、角度测量等原理进行测量;机械测长仪通过机械零件的移动来测量长度;电子测长仪则利用电子传感器测量物体的位移和变形。这些原理都能够提供高精度和可靠的测量结果。
二、测长仪的使用方法
1. 准备工作:确保测长仪处于正确的校准状态,清洁测量主机和传感器表面;
2. 放置物体:将待测物体放置在测量台上,确保稳定且与测量轴线垂直;
3. 开始测量:按下测量按钮或启动测量程序,测长仪将自动进行测量,并在显示屏上显示结果;
4. 数据处理:根据需要,对测量结果进行进一步的数据处理和分析。
三、测长仪的应用领域
测长仪广泛应用于制造业、科研实验室、质检部门等多个领域。以下是一些常见的应用案例:
1. 制造业:用于产品尺寸检测、零件加工精度控制等;
2. 科研实验室:用于材料性能测试、纳米级尺寸测量等;
3. 质检部门:用于产品质量把关、生产过程监控等。
400-801-9255